Система непрерывного контроля выходных параметров ультразвуковых технологических аппаратов

Хмелев В.Н., Абраменко Д.С., Барсуков Р.В., Генне Д.В.
International conference and seminar on micro/nanotechnologies and electron devices EDM 2010 01.01.2010

Нужна консультация по подбору оборудования?

Наши инженеры помогут подобрать оптимальное решение для ваших технологических задач. Получите бесплатную консультацию и расчет стоимости.