Система контроля свойств технологических сред, подвергаемых воздействию ультразвуковых полей высокой интенсивности

Хмелев В.Н., Барсуков Р.В., Ильченко Е.В.
Датчики и системы 01.01.2013
Статья в журнале
Нужна консультация по подбору оборудования?

Наши инженеры помогут подобрать оптимальное решение для ваших технологических задач. Получите бесплатную консультацию и расчет стоимости.

Нужна помощь с выбором оборудования? Опишите задачу, и мы подберём оптимальное решение.

Запросить консультацию