Система контроля свойств технологических сред, подвергаемых воздействию ультразвуковых полей высокой интенсивности

Хмелев В.Н., Барсуков Р.В., Ильченко Е.В.
Датчики и системы 01.01.2013

Нужна консультация по подбору оборудования?

Наши инженеры помогут подобрать оптимальное решение для ваших технологических задач. Получите бесплатную консультацию и расчет стоимости.